Understanding metric-related pitfalls in image analysis validation.
Annika ReinkeMinu TizabiMichael BaumgartnerMatthias EisenmannDoreen Heckmann-NötzelA. Emre KavurTim RädschCarole H. SudreLaura AciónMichela AntonelliTal ArbelSpyridon BakasArriel BenisMatthew B. BlaschkoFlorian BüttnerM. Jorge CardosoVeronika CheplyginaJianxu ChenEvangelia ChristodoulouBeth A. CiminiGary S. CollinsKeyvan FarahaniLuciana FerrerAdrian GaldranBram van GinnekenBen GlockerPatrick GodauRobert HaaseDaniel A. HashimotoMichael M. HoffmanMerel HuismanFabian IsenseePierre JanninCharles E. KahnDagmar KainmuellerBernhard KainzAlexandros KarargyrisAlan KarthikesalingamHannes KenngottJens KleesiekFlorian KoflerThijs KooiAnnette Kopp-SchneiderMichal KozubekAnna KreshukTahsin M. KurçBennett A. LandmanGeert LitjensAmin MadaniKlaus H. Maier-HeinAnne L. MartelPeter MattsonErik MeijeringBjoern H. MenzeKarel G. M. MoonsHenning MüllerBrennan NichyporukFelix NickelJens PetersenSusanne M. RafelskiNasir M. RajpootMauricio ReyesMichael A. RieglerNicola RiekeJulio Saez-RodriguezClara I. SánchezShravya ShettyMaarten van SmedenRonald M. SummersAbdel A. TahaAleksei TiulpinSotirios A. TsaftarisBen Van CalsterGaël VaroquauxManuel WiesenfarthZiv R. YanivPaul F. JägerLena Maier-HeinPublished in: CoRR (2023)