Uwe Hübner

Publication Activity (10 Years)

Years Active: 1988-2008
Publications (10 Years): 0

University of Paderborn, Germany (PHD)

Education History

University of Paderborn, Germany

PHD

Publications

Sven Gutow, Uwe Hübner, Klaus Wannemacher
Die neue Generation des Hochschul-Managements - HISinOne. Prax. Inf.verarb. Kommun. 31 (2) (2008)
Klaus Brunnstein, Uwe Hübner, Eike Jessen, Paul-Thomas Kandzia, Manfred Seedig
Welche Netze braucht die Wissenschaft? DFN-Arbeitstagung über Kommunikationsnetze (2002)
Jan Horbach, Uwe Hübner
Dynamisches Bandbreiten-Management. DFN-Arbeitstagung über Kommunikationsnetze (2002)
Uwe Hübner
Wireless Local Area Networks. DFN-Arbeitstagung über Kommunikationsnetze (2002)
Jan Horbach, Uwe Hübner
DiffServ mit adaptiven Regeln als Management-Instrument. Prax. Inf.verarb. Kommun. 25 (3) (2002)
Uwe Hübner, Steffen Seeger, Karsten Petersen
Das CLiC-Projekt. Planung und Inbetriebnahme eines PC-Clusters. Prax. Inf.verarb. Kommun. 24 (2) (2001)
Uwe Hübner
Netztechnologien und Netzanwendungen - was bringt die Zukunft?. INFOS (1999)
Uwe Hübner, Heinrich Theodor Vierhaus, Raul Camposano
Partitioning and analysis of static digital CMOS circuits. IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst. 16 (11) (1997)
Frank G. Brand, Uwe Hübner
Integration von Fax in Rechnernetze. Prax. Inf.verarb. Kommun. 17 (2) (1994)
Uwe Hübner
KiVS '95 "Neue Länder - Neue Netze - Neue Dienste". Prax. Inf.verarb. Kommun. 17 (4) (1994)
Uwe Hübner, Frank Richter
Charakteristika neuer E-Mail-Dienste und -Architekturen. Kommunikation in Verteilten Systemen (1993)
Uwe Hübner, Heinrich Theodor Vierhaus
Efficient partitioning and analysis of digital CMOS-circuits. ICCAD (1992)
Uwe Gläser, Uwe Hübner, Heinrich Theodor Vierhaus
Mixed Level Hierarchical Test Generation for Transition Faults and Overcurrent Related Defects. ITC (1992)
Uwe Hübner, Wolfgang Meyer, Heinrich Theodor Vierhaus
CMOS transistor faults and bridging faults: Testability by delay effects and overcurrents. Microprocess. Microprogramming 35 (1-5) (1992)
Uwe Hübner, H. Hinsen, M. Hofebauer, Heinrich Theodor Vierhaus
Mixed level test generation for high fault coverage. Microprocessing and Microprogramming 32 (1-5) (1991)
C. Matthäus, B. Krüger-Sprengel, C. Glowacz, Uwe Hübner, Heinrich Theodor Vierhaus
CMOS fault modeling, test generation and design for testability. Microprocess. Microprogramming 24 (1-5) (1988)

Uwe Hübner.css-eqlu8i{font-size:small;padding-left:4px;}

Publication Activity (10 Years)

Uwe Hübner