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Umgebung für automatisierte Tests von Dateisystemen auf NAND-Flash-Speichern.

Pascal PieperFabian GreifGörschwin Fey
Published in: Echtzeit (2016)
Keyphrases
  • flash memory
  • disk drives
  • e learning
  • image processing
  • website
  • artificial neural networks
  • data model
  • probabilistic model
  • nearest neighbor
  • low cost
  • embedded systems
  • test suite
  • solid state
  • low power consumption