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Stratégie de couverture de test à un haut niveau d'abstraction.

Pierre BontronMarie-Laure Potet
Published in: Tech. Sci. Informatiques (2004)
Keyphrases
  • test cases
  • neural network
  • feature selection
  • web services
  • clustering algorithm
  • three dimensional
  • high level
  • learning environment
  • preprocessing
  • special case
  • test data