Planar Sensor for Material Characterization Based on the Sierpinski Fractal Curve.
P. H. B. Cavalcanti FilhoJ. A. I. AraujoM. R. T. OliveiraMatheus D'Eça Torquato de MeloM. S. CoutinhoL. M. da SilvaIgnacio Llamas-GarroPublished in: J. Sensors (2020)