Reduzierung des Leckstromverbrauchs mit gemischten Gattern in Deep Submicron Technologien.

Frank Sill Claas Cornelius Dirk Timmermann

Published in: MBMV (2006)

Keyphrases

vlsi circuits
electron beam
test set
deep learning
massachusetts institute of technology
database
three dimensional
database systems
high quality
bayesian networks
low power
belief nets