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Testbarkeitsanalyse beim hierarchischen top-down Entwurf.

Ernst J. LehnerH. Hofestädt
Published in: Rechnergestützter Entwurf und Architektur mikroelektronischer Systeme (1990)
Keyphrases
  • knowledge discovery
  • e learning
  • image processing
  • high level
  • attention mechanism
  • feature extraction
  • spatio temporal
  • image data
  • multi class