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VLSI Schaltkreissimulation mit einem MOS-Tabellen-Modell auf der Basis numerischer Bauelementsimulationen.

Karl Michael EickhoffHeinz K. Dirks
Published in: Simulationstechnik (1988)
Keyphrases
  • high speed
  • test set
  • data sets
  • training data
  • evolutionary algorithm
  • vlsi design
  • feature selection
  • face recognition
  • bayesian networks
  • multiscale
  • pattern recognition
  • error rate