Login / Signup

Zwei Rechnergestützte Entwurfssysteme für Leiterplatten mit hoher Packungsdichte.

R. P. KugelU. Krupstedt
Published in: CAD-Fachgespräch (1977)
Keyphrases
  • test set
  • massachusetts institute of technology
  • data sets
  • machine learning
  • database
  • learning algorithm
  • face recognition