Login / Signup
Zwei Rechnergestützte Entwurfssysteme für Leiterplatten mit hoher Packungsdichte.
R. P. Kugel
U. Krupstedt
Published in:
CAD-Fachgespräch (1977)
Keyphrases
</>
test set
massachusetts institute of technology
data sets
machine learning
database
learning algorithm
face recognition