Login / Signup

Ein Szenario für die Anwendungssystementwicklung mit fachlichen Komponenten.

Erich OrtnerKlaus-Peter LangJörg Kalkmann
Published in: Liechtensteinisches Wirtschaftsinformatik-Symposium (1999)
Keyphrases
  • test set
  • massachusetts institute of technology
  • machine learning
  • data mining
  • error rate