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Inferenz spezielle Graphgrammatiken als Hilfsmittel zur Sturkturerkennung komplexer Linienmuster.

B. Bartsch
Published in: DAGM-Symposium (1979)
Keyphrases
  • laser scanning
  • viewpoint
  • three dimensional
  • high quality
  • high resolution
  • image segmentation
  • feature vectors
  • visual features
  • line segments
  • computer graphics