Login / Signup
Effiziente Simulation von Gateoxiddefekten auf Gatterebene mit Transistorlevel-Genauigkeit.
Hagen Sämrow
Claas Cornelius
Philipp Gorski
Jakob Salzmann
Dirk Timmermann
Published in:
MBMV (2012)
Keyphrases
</>
wide range
neural network
multimedia
training data
numerical simulations
simulation model
simulation models
discrete event simulation