Login / Signup

Redundante Schaltungen mit Ausfallanzeige und Reparatur.

Winfried GörkeJean-Louis Prout
Published in: Elektron. Rechenanlagen (1967)
Keyphrases
  • test set
  • massachusetts institute of technology
  • data sets
  • database
  • machine learning
  • feature selection
  • data mining
  • image processing
  • error rate
  • feature extraction