Detection of Corrosion in Thick Film Resistors by X-Ray Imaging.
Jonny M. IngmanJoni P. A. JormanainenSamu K. JärvinenNatalia I. KankoJoonas A. R. LeppänenAleksi M. VulliTommi J. KärkkäinenJuuso RautioJanne JäppinenPertti SilventoinenPublished in: IEEE Access (2021)